3. Memory Organization
AT24C1024B, 1024K SERIAL EEPROM: The 1024K is internally organized as 512 pages of
256 bytes each. Random word addressing requires a 17-bit data word address.
Table 3-1.
Pin Capacitance (1)
Applicable over recommended operating range from T A = 25 ? C, f = 1.0 MHz, V CC = +1.8V
Symbol
C I/O
C IN
Test Condition
Input/Output Capacitance (SDA)
Input Capacitance (A 1 , SCL)
Max
8
6
Units
pF
pF
Conditions
V I/O = 0V
V IN = 0V
Note:
1. This parameter is characterized and is not 100% tested.
Table 3-2.
DC Characteristics
Applicable over recommended operating range from: T AI = –40 ? C to +85 ? C, V CC = +1.8V to +5.5V (unless otherwise noted)
Symbol
V CC1
V CC2
Parameter
Supply Voltage
Supply Voltage
Test Condition
Min
1.8
2.5
Typ
Max
3.6
5.5
Units
V
V
I CC
I CC
I SB1
I SB2
I LI
I LO
V IL
Supply Current
Supply Current
Standby Current
Standby Current
Input Leakage Current
Output Leakage
Current
Input Low Level (1)
V CC = 5.0V
V CC = 5.0V
V CC = 1.8V
V CC = 3.6V
V CC = 2.5V
V CC = 5.5V
V IN = V CC or V SS
V OUT = V CC or V SS
READ at 400 kHz
WRITE at 400 kHz
V IN = V CC or V SS
V IN = V CC or V SS
–0.6
0.10
0.05
2.0
3.0
1.0
3.0
2.0
6.0
3.0
3.0
V CC x 0.3
mA
mA
μA
μA
μA
μA
μA
μA
V
V IH
Input High Level
(1)
V CC x 0.7
V CC + 0.5
V
V OL1
V OL2
Output Low Level
Output Low Level
V CC = 1.8V
V CC = 3.0V
I OL = 0.15 mA
I OL = 2.1 mA
0.2
0.4
V
V
Note:
1. V IL min and V IH max are reference only and are not tested.
Table 3-3.
AC Characteristics (Industrial Temperature)
Applicable over recommended operating range from T AI = ? 40 ? C to +85 ? C, V CC = +1.8V to +3.6V, CL = 100 pF (unless oth-
erwise noted). Test conditions are listed in Note 2.
1.8-volt
2.5, 5.0-volt
Symbol
Parameter
Min
Max
Min
Max
Units
f SCL
t LOW
t HIGH
Clock Frequency, SCL
Clock Pulse Width Low
Clock Pulse Width High
1.3
0.6
400
0.4
0.4
1000
kHz
μs
μs
4
AT24C1024B
5194F–SEEPR–1/08
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